產品介紹

GCSTD-D智能高低頻介電常數測試儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電(dian)氣(qi)絕緣材(cai)料在(zai)工頻、音頻、高頻（包括(kuo)米(mi)波波長在(zai)內）下電(dian)容(rong)

率和介質(zhi)損耗因數的推薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定(ding)方法

ASTM D150／IEC 60250固體(ti)電(dian)絕(jue)緣材料的(de)（恒(heng)久電(dian)介(jie)質）的(de)交流損耗特性和介(jie)電(dian)常數

的測試方法

智能高低頻介電常數測試儀GCSTD試驗方法：

接(jie)觸法(fa)：適(shi)用于(yu)厚度(du)均勻、上(shang)下表面平整、光滑(hua)材料

非接觸法：適用(yong)于上下表(biao)面不(bu)平(ping)整、不(bu)光滑材料

電(dian)極(ji)類型：固定電(dian)極(ji)-測量電(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電(dian)極(ji)1套，標配為38mm）

液體(ti)電極-液體(ti)容量15ml

粉體電極-根據樣品量可配專用電極

試樣(yang)類型：固體(ti)、液體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)／規則(ze)物或者不規則(ze)物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電(dian)平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次(ci)／s的測量速度

320x240點陣大(da)型圖(tu)形LCD顯(xian)示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏流源至(zhi)40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流(liu)的自動電(dian)平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部儀器設定可供儲存／讀取(qu)

內建比較器(qi)，10檔分選及計數功能

多種(zhong)通(tong)訊接口方便(bian)用戶(hu)聯(lian)機使用

2m／4m測試電纜擴展（選(xuan)件(jian)）

中英文可選操作界面

可通(tong)過USB HOST 自(zi)動升級(ji)儀器工作程(cheng)序

測試材料：

無源(yuan)元件(jian)(jian)：電容器(qi)、電感器(qi)、磁芯、電阻器(qi)、壓(ya)電器(qi)件(jian)(jian)、變(bian)壓(ya)器(qi)、芯片組件(jian)(jian)和網絡元件(jian)(jian)

等(deng)的陽抗參(can)數(shu)評估和性(xing)能(neng)分析(xi)。

半導體元件：變容二(er)極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路(lu)的寄生參(can)數分析

其(qi)它(ta)元件(jian)：印制電(dian)路板、繼電(dian)器、開關(guan)、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評估

介質材料(liao)(liao)(liao)：塑料(liao)(liao)(liao)、陶瓷和其它材料(liao)(liao)(liao)的(de)介電常數和損耗角評估

磁性(xing)材(cai)料：鐵氧體、非(fei)晶體和(he)其(qi)它磁性(xing)材(cai)料的導磁率和(he)損耗(hao)角評估

半導體(ti)材料：半導體(ti)材料的介電常數、導電率(lv)和C-V特性

液(ye)晶材料：液(ye)晶單(dan)元的介電常數(shu)、彈性常數(shu)等C-V特性