產品介紹

GCSTD-D智能高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)(dian)氣絕緣(yuan)材料在工頻、音(yin)頻、高頻（包(bao)括(kuo)米波(bo)波(bo)長在內(nei)）下電(dian)(dian)容

率和介質損(sun)耗因(yin)數的推薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫(liu)化橡膠(jiao)介電(dian)常數和介質損(sun)耗(hao)角正切值(zhi)的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣(yuan)材(cai)料的(de)（恒久電介質）的(de)交流損耗特性(xing)和介電常數

的測試方法

智能高低頻介電常數測試儀試驗方法：

接觸法：適用于(yu)厚度均勻、上下表面(mian)平整、光滑材料

非接觸法(fa)：適用于上下表面不平整、不光(guang)滑材料

電(dian)極(ji)類型：固定電(dian)極(ji)-測量電(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電(dian)極(ji)1套(tao)，標配為38mm）

液體(ti)電極-液體(ti)容量15ml

粉體電極(ji)-根據樣品(pin)量可(ke)配專用電極(ji)

試樣(yang)類(lei)型(xing)：固體、液體、粉(fen)體、膏體／規(gui)則(ze)物或者不(bu)規(gui)則(ze)物

性能特點：

測試(shi)頻率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進(jin)

測試電平10mV～5V，1mV步(bu)進(jin)

基本準確度0.1％

最高(gao)達200次／s的測量(liang)速(su)度

320x240點(dian)陣大型圖形LCD顯(xian)示

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置(zhi)偏流源至40A（配置(zhi)兩(liang)臺(tai)TH1776）（選(xuan)件(jian)）

電壓(ya)或電流的(de)自動電平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供(gong)儲存／讀(du)取(qu)

內建(jian)比較器(qi)，10檔分選及計數功能

多種通訊接口方便用(yong)戶(hu)聯機使用(yong)

2m／4m測試(shi)電纜擴展（選(xuan)件(jian)）

中英文可選操作界面

可(ke)通過USB HOST 自(zi)動升級(ji)儀器工作程序

測試材料：

無源(yuan)元件(jian)：電容器、電感器、磁芯、電阻(zu)器、壓電器件(jian)、變壓器、芯片組件(jian)和網絡(luo)元件(jian)

等的陽抗參數評估和(he)性能分析。

半導體元件：變容二(er)極管的C-VDC特性；晶體管或(huo)集(ji)成電路的寄生參(can)數分析

其它元件(jian)：印制電(dian)路(lu)板、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜(lan)、電(dian)池等的阻(zu)抗評估

介質(zhi)材料：塑料、陶瓷和(he)其它(ta)材料的介電常(chang)數和(he)損耗角評估(gu)

磁性(xing)材(cai)料(liao)：鐵氧(yang)體、非晶體和(he)其它磁性(xing)材(cai)料(liao)的(de)導磁率和(he)損耗(hao)角評(ping)估

半導(dao)(dao)體(ti)材料：半導(dao)(dao)體(ti)材料的(de)介(jie)電常數(shu)、導(dao)(dao)電率和C-V特性(xing)

液晶材料：液晶單元的介電常數(shu)、彈性常數(shu)等C-V特性