產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數測試儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電氣絕緣材料(liao)在(zai)(zai)工頻、音(yin)頻、高頻（包括米(mi)波(bo)波(bo)長在(zai)(zai)內）下電容

率(lv)和介質損(sun)耗因數的推薦方法(fa)

GB／T1693-2007硫化橡膠(jiao)介電常(chang)數和介質(zhi)損耗(hao)角正切值(zhi)的(de)測定方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材(cai)料(liao)的（恒久電(dian)介質）的交流損耗(hao)特性和介電(dian)常數

的測試方法

高低頻介電常數測試儀GCSTD試驗方法：

接觸法：適用(yong)于厚度均勻、上下(xia)表面平整、光滑材料

非接觸(chu)法：適用于上下表(biao)面不(bu)平(ping)整、不(bu)光滑材料

電極類型(xing)：固(gu)定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配(pei)(pei)電極1套，標配(pei)(pei)為38mm）

液(ye)體(ti)電極-液(ye)體(ti)容量15ml

粉(fen)體電極-根據樣品量可配專用電極

試樣類型：固體、液(ye)體、粉體、膏體／規(gui)則物或者(zhe)不規(gui)則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進(jin)

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高(gao)達200次／s的測量速(su)度

320x240點(dian)陣大型(xing)圖形(xing)LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組(zu)合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源(yuan)至40A（配置兩(liang)臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的自動電(dian)平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平監(jian)視功能

圖形掃描分析功能

20組(zu)內部儀器設定可供(gong)儲存(cun)／讀取

內建比較器，10檔分選(xuan)及(ji)計數功(gong)能

多(duo)種通訊接口方(fang)便用戶聯機使用

2m／4m測(ce)試(shi)電纜擴展（選件(jian)）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動(dong)升(sheng)級儀器工作程(cheng)序(xu)

測試材料：

無源元(yuan)(yuan)件：電(dian)容器(qi)、電(dian)感(gan)器(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)、壓(ya)電(dian)器(qi)件、變(bian)壓(ya)器(qi)、芯片組件和網絡元(yuan)(yuan)件

等的陽抗參數評估和(he)性能(neng)分析(xi)。

半(ban)導體(ti)元件(jian)：變容二極管(guan)的(de)C-VDC特性；晶體(ti)管(guan)或集成電路的(de)寄生參數分析

其它(ta)元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池(chi)等的阻抗評估

介(jie)質材料(liao)：塑料(liao)、陶瓷和其它材料(liao)的介(jie)電常數和損耗(hao)角評(ping)估

磁(ci)性材(cai)料(liao)：鐵氧體(ti)(ti)、非晶體(ti)(ti)和(he)其它磁(ci)性材(cai)料(liao)的導磁(ci)率和(he)損(sun)耗角評估

半導(dao)(dao)體材料：半導(dao)(dao)體材料的介電常(chang)數、導(dao)(dao)電率和C-V特(te)性

液晶材料(liao)：液晶單元的(de)介電常(chang)數(shu)、彈(dan)性(xing)常(chang)數(shu)等C-V特性(xing)