產品介紹

智能高低頻介電常數檢測儀GCSTD

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在(zai)工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米波波長在(zai)內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法

GB/T1693-2007 硫(liu)化橡膠 介電常(chang)數和介質損耗角正切值的測定方法(fa)

ASTM D150/IEC 60250固體電絕(jue)緣材料的(恒久電介質)的交流損耗(hao)特性和介電常數的測(ce)試方法

二、智能高低頻介電常數檢測儀GCSTD技術要求：

接觸法：適用于厚度(du)均(jun)勻、上(shang)下表(biao)面平整、光(guang)滑(hua)材料

電(dian)極(ji)(ji)(ji)類(lei)型：固定電(dian)極(ji)(ji)(ji)-測量電(dian)極(ji)(ji)(ji)φ38mm

測(ce)試頻率(lv)：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)試頻率(lv)可以掃描進(jin)行測(ce)試

*2、測(ce)試(shi)頻率可以單點測(ce)試(shi)

*3、測試頻(pin)率可以(yi)多頻(pin)設置(zhi)測試

4、測試速(su)度模式：快速(su)、中速(su)、慢速(su)

5、測試數(shu)據與曲(qu)線顯示：

*6、電(dian)阻(zu)率(lv)—測試頻率(lv)

*7、絕對(dui)介電常數--測試頻(pin)率

*8、相對介電常(chang)數--測(ce)試頻率

*9、相對介電常數(shu)虛(xu)部--測試頻率

*10、相對介(jie)電常數實(shi)部--測試(shi)頻率

*11、介質(zhi)損耗--測試頻率

*12、電容值--測(ce)試頻(pin)率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步(bu)進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快(kuai)速: 200次(ci)/s（f﹥30kHz） ,100次(ci)/s（f﹥1kHz）

中速(su): 25次(ci)/s, 慢速(su): 5次(ci)/s

校準功能 開(kai)路(lu) / 短路(lu)點頻、掃頻清(qing)零(ling)，負載校準

等效方式 串聯(lian)方式, 并聯(lian)方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部, 手動, 外部, 總(zong)線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步(bu)進

比較器功能 10檔(dang)分(fen)選及計數功能(neng)

顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示

存儲器 可(ke)保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）