產品介紹

智能高低頻介電常數分析儀GCSTD

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括(kuo)米(mi)波波長(chang)在內）下(xia)電容(rong)率和介(jie)質損耗因(yin)數的推薦方(fang)法

GB/T1693-2007 硫(liu)化橡(xiang)膠(jiao) 介(jie)電(dian)常數和介(jie)質損耗角正(zheng)切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交(jiao)流損(sun)耗特(te)性和介電常(chang)數的測(ce)試方法

二、智能高低頻介電常數分析儀GCSTD技術要求：

接(jie)觸法：適用于厚度均勻、上下(xia)表面平(ping)整、光滑材料

電(dian)(dian)極類型(xing)：固定電(dian)(dian)極-測量電(dian)(dian)極φ38mm

測試頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試頻率可以掃描進行測試

*2、測試頻率可以單點(dian)測試

*3、測試頻率可以多頻設置測試

4、測(ce)試速(su)(su)度模式：快速(su)(su)、中速(su)(su)、慢速(su)(su)

5、測試數據與曲線顯示：

*6、電阻率(lv)—測試(shi)頻率(lv)

*7、絕對(dui)介(jie)電常(chang)數--測試頻率(lv)

*8、相對介電(dian)常數--測(ce)試(shi)頻率(lv)

*9、相對介(jie)電(dian)常數虛部--測試頻率

*10、相(xiang)對介(jie)電常數(shu)實部--測試頻率

*11、介質損耗--測(ce)試(shi)頻率

*12、電容值--測試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次(ci)(ci)/s（f﹥30kHz） ,100次(ci)(ci)/s（f﹥1kHz）

中速(su): 25次(ci)/s, 慢速(su): 5次(ci)/s

校準功能 開路(lu) / 短路(lu)點(dian)頻、掃(sao)頻清零，負載校準

等效方式 串聯方(fang)式, 并聯方(fang)式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內(nei)部(bu), 手動, 外部(bu), 總(zong)線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及計數功能

顯示器 320×240點陣圖(tu)形LCD顯(xian)示

存儲器 可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）