產品介紹

智能高低頻介電常數試驗儀GCSTD

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕(jue)緣材料(liao)在工頻(pin)、音(yin)頻(pin)、高頻(pin)（包括(kuo)米波(bo)波(bo)長在內）下電容率和介質損耗因數的推(tui)薦(jian)方法(fa)

GB/T1693-2007 硫(liu)化橡(xiang)膠(jiao) 介電常數和介質損耗角正切值的測定(ding)方法

ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的(恒久電(dian)介質(zhi))的交(jiao)流(liu)損耗特性和(he)介電(dian)常數(shu)的測試方(fang)法

二、智能高低頻介電常數試驗儀GCSTD技術要求：

接觸(chu)法：適用(yong)于厚度均勻、上下表(biao)面平整、光(guang)滑(hua)材料

電極(ji)類型：固定(ding)電極(ji)-測量電極(ji)φ38mm

測(ce)試頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試頻(pin)率可以掃(sao)描進(jin)行測試

*2、測(ce)試頻率可以單點(dian)測(ce)試

*3、測(ce)(ce)試(shi)頻率可以多頻設置測(ce)(ce)試(shi)

4、測試速(su)度模式：快速(su)、中速(su)、慢(man)速(su)

5、測(ce)試數據與曲(qu)線(xian)顯示：

*6、電阻率(lv)—測試頻率(lv)

*7、絕對介電(dian)常數--測試頻率(lv)

*8、相(xiang)對介(jie)電常數--測試頻(pin)率

*9、相對介電常數虛部--測試頻(pin)率

*10、相(xiang)對介電(dian)常數實部--測試頻率

*11、介質損(sun)耗--測試頻(pin)率

*12、電容值--測試頻(pin)率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次(ci)/s（f﹥30kHz） ,100次(ci)/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準

等效方式 串聯(lian)方(fang)(fang)式, 并聯(lian)方(fang)(fang)式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部, 手動, 外部, 總(zong)線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jin)

比較器功能 10檔分(fen)選及計數功能

顯示器 320×240點陣(zhen)圖形LCD顯示

存儲器 可保存(cun)20組儀器設(she)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）