產品介紹

新款高低頻介電常數試驗儀GCSTD

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量(liang)電(dian)氣絕緣材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高(gao)頻(pin)（包括米波波長在內）下電(dian)容率和介質(zhi)損耗因數的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡(xiang)膠 介電常數和(he)介質損耗角(jiao)正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體(ti)電(dian)絕緣(yuan)材料的(de)(恒久(jiu)電(dian)介質)的(de)交流損耗特性和(he)介電(dian)常數的(de)測試方法(fa)

二、新款高低頻介電常數試驗儀GCSTD技術要求：

接觸法：適用于厚度均(jun)勻、上下(xia)表面平整、光滑材料

電(dian)(dian)極(ji)類型(xing)：固(gu)定電(dian)(dian)極(ji)-測量電(dian)(dian)極(ji)φ38mm

測試頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試頻率可以掃描進行測試

*2、測試頻率可以(yi)單點測試

*3、測試頻率(lv)可以多頻設(she)置測試

4、測試(shi)速(su)度(du)模式：快速(su)、中速(su)、慢速(su)

5、測試數據與曲線顯示：

*6、電(dian)阻率—測(ce)試頻(pin)率

*7、絕對(dui)介電(dian)常(chang)數--測試(shi)頻率

*8、相對介電常數--測試頻率

*9、相對介(jie)電(dian)常數虛(xu)部--測(ce)試頻率

*10、相對介電常(chang)數實部--測試頻率(lv)

*11、介質損(sun)耗--測(ce)試頻率

*12、電容值--測試頻(pin)率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快(kuai)速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次(ci)/s, 慢速: 5次(ci)/s

校準功能 開路 / 短(duan)路點頻、掃頻清(qing)零，負載(zai)校準

等效方式 串聯方(fang)式(shi), 并聯方(fang)式(shi)

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部, 手動, 外部, 總(zong)線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jin)

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步(bu)進

比較器功能 10檔分選及(ji)計數(shu)功能(neng)

顯示器 320×240點陣圖形(xing)LCD顯(xian)示(shi)

存儲器 可保存20組儀器設(she)定(ding)值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）