產品介紹

新款高低頻介電常數測試儀GCSTD

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在(zai)工頻、音頻、高頻（包(bao)括米(mi)波波長在(zai)內）下電容率和介質損耗因數的推(tui)薦(jian)方(fang)法

GB/T1693-2007 硫化橡(xiang)膠 介電(dian)常數和介質(zhi)損耗角正切值的測定(ding)方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料(liao)的(de)(恒久電介質)的(de)交(jiao)流(liu)損耗特性和介電常數的(de)測試方法

二、新款高低頻介電常數測試儀GCSTD技術要求：

接(jie)觸法：適(shi)用于厚度(du)均勻、上下表面平整(zheng)、光滑(hua)材料

電(dian)極(ji)(ji)類型：固(gu)定(ding)電(dian)極(ji)(ji)-測(ce)量電(dian)極(ji)(ji)φ38mm

測試頻(pin)率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)(ce)試(shi)頻率可以掃描進行測(ce)(ce)試(shi)

*2、測(ce)試(shi)頻率可以單(dan)點測(ce)試(shi)

*3、測試(shi)頻率可(ke)以多頻設置測試(shi)

4、測試速度模式：快速、中速、慢速

5、測試數據與曲線顯(xian)示：

*6、電阻率—測試頻率

*7、絕對介電常數(shu)--測(ce)試頻率

*8、相對介電(dian)常數--測(ce)試頻率

*9、相對介電常數虛部--測試(shi)頻率(lv)

*10、相(xiang)對介電常數實部--測試頻(pin)率(lv)

*11、介質損耗--測試頻率

*12、電容(rong)值--測試頻(pin)率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中(zhong)速(su): 25次/s, 慢(man)速(su): 5次/s

校準功能 開路 / 短(duan)路點頻(pin)、掃(sao)頻(pin)清零(ling)，負(fu)載校(xiao)準(zhun)

等效方式 串聯方(fang)(fang)式, 并(bing)聯方(fang)(fang)式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部(bu)(bu), 手動, 外部(bu)(bu), 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分(fen)選及(ji)計(ji)數功能

顯示器 320×240點陣圖形(xing)LCD顯示

存儲器 可保存20組儀(yi)器(qi)設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）