產品介紹

智能高低頻介電常數測試儀GCSTD

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電(dian)氣絕(jue)緣(yuan)材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米波(bo)波(bo)長在內）下(xia)電(dian)容(rong)率(lv)和介質損(sun)耗(hao)因數的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切(qie)值的測定方法(fa)

ASTM D150/IEC 60250固(gu)體電(dian)絕緣(yuan)材料的(de)(恒(heng)久電(dian)介質)的(de)交流損(sun)耗(hao)特(te)性和介電(dian)常數的(de)測試方(fang)法

二、智能高低頻介電常數測試儀GCSTD技術要求：

接(jie)觸(chu)法：適(shi)用于(yu)厚度均勻、上下表面(mian)平整、光滑材料

電極類型：固(gu)定電極-測量電極φ38mm

測試頻(pin)率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(ce)試頻率可以掃(sao)描進行測(ce)試

*2、測試(shi)頻率可以單點(dian)測試(shi)

*3、測試頻率(lv)可以多(duo)頻設置測試

4、測試速(su)(su)度模式：快速(su)(su)、中速(su)(su)、慢速(su)(su)

5、測試數據與曲線顯示：

*6、電(dian)阻率(lv)—測(ce)試頻(pin)率(lv)

*7、絕對介(jie)電常數--測(ce)試頻率

*8、相對介電(dian)常數--測試頻率(lv)

*9、相(xiang)對介(jie)電常數(shu)虛部--測(ce)試頻率

*10、相對介(jie)電常數實(shi)部--測試頻(pin)率

*11、介質(zhi)損(sun)耗--測試頻率

*12、電容值--測試頻率(lv)

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中(zhong)速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路(lu) / 短路(lu)點頻(pin)、掃頻(pin)清零(ling)，負載(zai)校準

等效方式 串(chuan)聯方式, 并聯方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部(bu)(bu), 手動, 外部(bu)(bu), 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選(xuan)及(ji)計數功能

顯示器 320×240點陣(zhen)圖形LCD顯示(shi)

存儲器 可(ke)保存(cun)20組儀(yi)器設(she)定(ding)值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）