產品介紹

多功能高低頻介電常數檢測儀GCSTD

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量電(dian)氣絕緣材料(liao)在(zai)(zai)工頻、音頻、高頻（包括米波(bo)波(bo)長在(zai)(zai)內）下電(dian)容率(lv)和介質損(sun)耗因數的(de)推薦方(fang)法

GB/T1693-2007 硫(liu)化橡膠 介電常數和介質損耗角正切(qie)值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕(jue)緣(yuan)材料的(恒久電(dian)介質)的交流(liu)損耗特性和(he)介電(dian)常數(shu)的測試方法

二、多功能高低頻介電常數檢測儀GCSTD技術要求：

接觸法(fa)：適用(yong)于厚度均勻(yun)、上下表面(mian)平整、光(guang)滑材料

電(dian)極類(lei)型：固(gu)定電(dian)極-測量電(dian)極φ38mm

測試(shi)頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試頻(pin)率可以掃描進行測試

*2、測試頻(pin)率可以單(dan)點測試

*3、測(ce)試頻率可以多頻設置測(ce)試

4、測試(shi)速(su)(su)度模式：快速(su)(su)、中速(su)(su)、慢速(su)(su)

5、測試數據與曲線顯(xian)示：

*6、電阻率—測(ce)試頻率

*7、絕對介電常數--測試頻率

*8、相對(dui)介電常數--測試頻(pin)率(lv)

*9、相對介電常數虛部(bu)--測試頻(pin)率(lv)

*10、相對介電常數實部(bu)--測試頻(pin)率

*11、介質損耗--測(ce)試頻率(lv)

*12、電容值--測(ce)試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路 / 短(duan)路點頻(pin)、掃頻(pin)清零，負載校準

等效方式 串聯方(fang)式(shi), 并聯方(fang)式(shi)

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部, 手動(dong), 外部, 總線(xian)

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及計(ji)數功能

顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示(shi)

存儲器 可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）