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產品詳細頁GCSTD高低頻介電常數試驗儀
- 產品(pin)型號(hao):GCSTD-D
- 更新時間(jian):2023-12-05
- 產品(pin)介紹:GCSTD高低頻介電常數試驗儀是一種*的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
GCSTD高低頻介電常數試驗儀
滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(chang)在內)下電容
率(lv)和介(jie)質損耗因數的推(tui)薦(jian)方法
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常(chang)數和介質(zhi)損(sun)耗角正切值(zhi)的測定方法(fa)
ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕(jue)緣材料的(恒(heng)久(jiu)電(dian)介質)的交流損耗特(te)性和介電(dian)常數
的測試方法
GCSTD高低頻介電常數試驗儀試驗方法:
接觸法(fa):適用于厚度均(jun)勻、上下表面平(ping)整、光滑材料(liao)
非接觸(chu)法:適用于上(shang)下表面不平整、不光(guang)滑材料(liao)
電極(ji)類型:固定電極(ji)-測量電極(ji)φ38mm/φ50mm(標(biao)配(pei)電極(ji)1套,標(biao)配(pei)為38mm)
液體電(dian)極-液體容量15ml
粉體電極-根(gen)據樣品量可配專用(yong)電極
試樣類型(xing):固(gu)體、液(ye)體、粉體、膏(gao)體/規則物(wu)或者不規則物(wu)
性能特點:
測(ce)試頻率20H2~2MHz,10mHz步進
測(ce)試電平10mV~5V,1mV步進(jin)
基本準確度0.1%
最高(gao)達200次(ci)/s的測量速度
320x240點陣大型圖形LCD顯示
五位讀數分辨率
可測量22種(zhong)阻(zu)抗參數組合(he)
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置偏流源(yuan)至(zhi)40A(配置兩臺TH1776)(選件)
電(dian)壓或電(dian)流的自動(dong)電(dian)平調整(ALC)功能(neng)
V、1測試信號(hao)電(dian)平監(jian)視功(gong)能
圖形掃描分析功能
20組(zu)內(nei)部儀器(qi)設定可供儲存(cun)/讀(du)取
內建比較器,10檔(dang)分選(xuan)及計(ji)數(shu)功(gong)能
多種通訊接口方便用(yong)(yong)戶聯機使用(yong)(yong)
2m/4m測(ce)試(shi)電纜擴展(選件)
中英文可選操作界面
可通過USB HOST 自(zi)動升級儀器工(gong)作(zuo)程序
測試材料:
無源(yuan)元件:電(dian)(dian)容器(qi)(qi)(qi)、電(dian)(dian)感器(qi)(qi)(qi)、磁芯(xin)、電(dian)(dian)阻器(qi)(qi)(qi)、壓(ya)電(dian)(dian)器(qi)(qi)(qi)件、變壓(ya)器(qi)(qi)(qi)、芯(xin)片組件和網絡元件
等的(de)陽抗參(can)數評估和(he)性(xing)能分析。
半導(dao)體元件:變容二(er)極(ji)管的C-VDC特性;晶(jing)體管或集成(cheng)電路的寄生參數分析
其它元件(jian):印制(zhi)電(dian)路板、繼電(dian)器、開關(guan)、電(dian)纜、電(dian)池等的(de)阻抗(kang)評估
介(jie)質材(cai)料(liao):塑料(liao)、陶瓷和(he)其(qi)它材(cai)料(liao)的介(jie)電常數和(he)損耗角(jiao)評估
磁(ci)(ci)性材料(liao):鐵氧(yang)體(ti)、非晶體(ti)和其它磁(ci)(ci)性材料(liao)的(de)導磁(ci)(ci)率和損(sun)耗角評估
半(ban)導體(ti)材(cai)料:半(ban)導體(ti)材(cai)料的介電(dian)常數、導電(dian)率和C-V特性
液(ye)晶(jing)材料:液(ye)晶(jing)單元的(de)介電常數、彈性常數等C-V特性
- 下一(yi)篇:GCSTD-DGCSTD介電常數及介質損耗測試儀