產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數實驗儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電(dian)氣(qi)絕緣(yuan)材料在(zai)工頻、音(yin)頻、高頻（包(bao)括米波波長在(zai)內）下電(dian)容

率和介質損耗(hao)因數的推薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗(hao)角正切值的測(ce)定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕(jue)緣材(cai)料的(de)（恒(heng)久電(dian)介質）的(de)交流損耗特性和介電(dian)常數

的測試方法

高低頻介電常數實驗儀GCSTD試驗方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平(ping)整、光滑材料

非接觸(chu)法：適用于上(shang)下表面不(bu)(bu)平整、不(bu)(bu)光滑(hua)材(cai)料

電極類型(xing)：固(gu)定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標(biao)配電極1套，標(biao)配為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電(dian)極-根據樣品量(liang)可配專用電(dian)極

試樣類(lei)型：固體、液體、粉(fen)體、膏體／規則(ze)物或者不(bu)規則(ze)物

性能特點：

測(ce)試頻率(lv)20H2～2MHz，10mHz步(bu)進

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速度

320x240點(dian)陣大型圖形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏(pian)流源至40A（配(pei)置(zhi)兩臺TH1776）（選(xuan)件）

電壓(ya)或電流的自動(dong)電平調整(zheng)（ALC）功能(neng)

V、1測試(shi)信號電平監視功能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供儲存(cun)／讀取

內建比較器(qi)，10檔分選及計數(shu)功能

多種通訊接口方(fang)便用戶聯機使用

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通(tong)過(guo)USB HOST 自動升級(ji)儀器(qi)工作程序

測試材料：

無(wu)源(yuan)元(yuan)件：電(dian)容(rong)器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)、壓電(dian)器(qi)件、變壓器(qi)、芯片組件和網絡元(yuan)件

等的陽抗參數評估和性能(neng)分析。

半導體(ti)元件：變容二極管(guan)的C-VDC特性(xing)；晶體(ti)管(guan)或集成電路的寄生參數分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等(deng)的阻(zu)抗評估

介質材(cai)料：塑料、陶(tao)瓷(ci)和其它材(cai)料的介電常數和損耗(hao)角評估

磁性(xing)(xing)材料(liao)：鐵氧體(ti)、非晶(jing)體(ti)和(he)其它磁性(xing)(xing)材料(liao)的導磁率和(he)損耗角評估

半導(dao)體(ti)材料(liao)：半導(dao)體(ti)材料(liao)的介電常數、導(dao)電率(lv)和(he)C-V特性

液(ye)晶(jing)材料：液(ye)晶(jing)單(dan)元(yuan)的介電常數、彈性(xing)常數等C-V特性(xing)