產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數測定儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電氣絕緣材料在(zai)工頻、音(yin)頻、高頻（包括米波波長在(zai)內）下(xia)電容

率和(he)介質損(sun)耗因數的推薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫(liu)化(hua)橡膠(jiao)介電常(chang)數和(he)介質損耗角正切(qie)值的測(ce)定方法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電(dian)絕(jue)緣材料的(de)（恒久電(dian)介(jie)質）的(de)交(jiao)流損耗特性(xing)和介(jie)電(dian)常數

的測試方法

高低頻介電常數測定儀GCSTD試驗方法：

接觸法：適用(yong)于厚度均勻、上下表面平整、光(guang)滑材(cai)料

非接(jie)觸法(fa)：適用于上下表面不(bu)(bu)平整、不(bu)(bu)光滑(hua)材料

電極類型：固定電極-測(ce)量電極φ38mm／φ50mm（標配電極1套，標配為38mm）

液體(ti)電極(ji)-液體(ti)容量15ml

粉體電極-根據樣品量可配專用電極

試樣(yang)類型：固體、液(ye)體、粉(fen)體、膏體／規則(ze)物(wu)或者不規則(ze)物(wu)

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測(ce)試電(dian)平10mV～5V，1mV步(bu)進

基本準確度0.1％

最高達(da)200次／s的測量速度

320x240點(dian)陣大型圖形LCD顯(xian)示

五位讀數分辨率

可(ke)測量(liang)22種阻抗參(can)數組合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏流源(yuan)至40A（配置(zhi)兩臺TH1776）（選件(jian)）

電壓或電流的自(zi)動電平調(diao)整（ALC）功能

V、1測(ce)試(shi)信(xin)號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部儀器設定可供儲存(cun)／讀取

內建比較器，10檔分選及計數功能

多種通訊接口(kou)方便用(yong)戶聯機使(shi)用(yong)

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自(zi)動升(sheng)級儀器工作(zuo)程序

測試材料：

無源元件(jian)(jian)：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓(ya)電器件(jian)(jian)、變壓(ya)器、芯片組(zu)件(jian)(jian)和(he)網絡元件(jian)(jian)

等的(de)陽抗參數(shu)評估和性能分(fen)析。

半導體元件：變容二極管的(de)C-VDC特性(xing)；晶體管或集成(cheng)電路的(de)寄(ji)生參數分析(xi)

其它元件：印(yin)制電(dian)路板、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池(chi)等的阻抗(kang)評(ping)估

介質材(cai)料：塑(su)料、陶瓷(ci)和其它材(cai)料的介電常數和損耗角評(ping)估

磁(ci)性材料：鐵氧體、非晶(jing)體和其它(ta)磁(ci)性材料的導(dao)磁(ci)率和損耗角評估

半導體材(cai)料：半導體材(cai)料的(de)介(jie)電(dian)常(chang)數、導電(dian)率和C-V特性(xing)

液(ye)晶材料：液(ye)晶單元的(de)介(jie)電常(chang)數、彈性(xing)常(chang)數等(deng)C-V特性(xing)