產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數及介質損耗測試儀器

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電(dian)氣絕緣材料(liao)在工頻、音頻、高頻（包括米(mi)波波長在內(nei)）下電(dian)容

率和介質損耗因數(shu)的推薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫化(hua)橡膠(jiao)介(jie)電常數和介(jie)質(zhi)損耗角正切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料(liao)的（恒久電介質）的交流損(sun)耗特性和介電常數

的測試方法

高低頻介電常數及介質損耗測試儀器試驗方法：

接觸(chu)法：適用于厚度均(jun)勻、上下表面平整(zheng)、光(guang)滑材料

非接觸法(fa)：適(shi)用于上下表面不(bu)平整(zheng)、不(bu)光滑材料

電極類型：固定(ding)電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配(pei)電極1套，標配(pei)為38mm）

液體電極-液體容量(liang)15ml

粉體電(dian)極-根(gen)據樣(yang)品量可配專用(yong)電(dian)極

試樣類型(xing)：固(gu)體(ti)、液(ye)體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)／規則物(wu)或者不規則物(wu)

性能特點：

測試頻率(lv)20H2～2MHz，10mHz步進(jin)

測試電(dian)平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達(da)200次／s的測量(liang)速(su)度

320x240點(dian)陣大型圖形(xing)LCD顯(xian)示(shi)

五位讀數分辨率

可測量22種(zhong)阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏流源至40A（配置兩(liang)臺TH1776）（選件(jian)）

電(dian)壓或電(dian)流的自動電(dian)平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部(bu)儀器設定可供儲存／讀取

內建比較器，10檔(dang)分選及計數功能

多種通(tong)訊接口(kou)方便用戶聯機(ji)使用

2m／4m測試電纜擴展(zhan)（選件）

中英文可選操作界面

可通(tong)過USB HOST 自動(dong)升(sheng)級儀器工作程序

測試材料：

無源元件(jian)：電(dian)容(rong)器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯(xin)、電(dian)阻(zu)器(qi)、壓(ya)電(dian)器(qi)件(jian)、變壓(ya)器(qi)、芯(xin)片(pian)組(zu)件(jian)和網絡元件(jian)

等的陽抗參數評(ping)估(gu)和性(xing)能(neng)分析(xi)。

半導(dao)體元件：變容二(er)極管(guan)的C-VDC特性；晶體管(guan)或集成電路的寄(ji)生參數分析

其它元件：印(yin)制電(dian)路板、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評估

介(jie)質(zhi)材(cai)料(liao)(liao)：塑(su)料(liao)(liao)、陶瓷和其(qi)它(ta)材(cai)料(liao)(liao)的介(jie)電常數和損耗角(jiao)評(ping)估(gu)

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評(ping)估

半導(dao)體材料：半導(dao)體材料的介電常數(shu)、導(dao)電率和C-V特(te)性(xing)

液晶材料(liao)：液晶單元的(de)介電常數(shu)、彈性常數(shu)等C-V特(te)性