產品介紹

GCSTD-D電容器高低頻介電常數實驗儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕(jue)緣(yuan)材料在工頻、音頻、高(gao)頻（包括米波波長在內(nei)）下(xia)電容(rong)

率和介質損耗因數的推(tui)薦方法

GB／T1693-2007硫(liu)化(hua)橡膠介電(dian)常數和介質(zhi)損耗角正切值(zhi)的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)(dian)絕(jue)緣(yuan)材料(liao)的（恒久電(dian)(dian)介質）的交流損耗特性(xing)和介電(dian)(dian)常數

的測試方法

電容器高低頻介電常數實驗儀GCSTD試驗方法：

接觸法：適(shi)用于厚度均勻(yun)、上下表面平整、光滑(hua)材料(liao)

非(fei)接觸法：適用于上(shang)下(xia)表面(mian)不平整(zheng)、不光滑(hua)材料

電極(ji)類型：固定電極(ji)-測(ce)量電極(ji)φ38mm／φ50mm（標配(pei)電極(ji)1套，標配(pei)為38mm）

液(ye)體電(dian)極-液(ye)體容量15ml

粉體電(dian)極-根據(ju)樣(yang)品量可(ke)配專用(yong)電(dian)極

試樣(yang)類型(xing)：固(gu)體、液(ye)體、粉體、膏(gao)體／規(gui)則(ze)物或者不規(gui)則(ze)物

性能特點：

測試(shi)頻率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進(jin)

測試電平(ping)10mV～5V，1mV步進(jin)

基本準確度0.1％

最高達200次(ci)／s的測量(liang)速度

320x240點陣大型圖(tu)形LCD顯示(shi)

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組(zu)合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的自動電(dian)平調整（ALC）功能(neng)

V、1測試信號電(dian)平監視功能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定(ding)可(ke)供儲存／讀取

內建比較器，10檔分選(xuan)及計數功(gong)能(neng)

多種通訊接口方便用戶(hu)聯機使用

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通(tong)過USB HOST 自(zi)動(dong)升級儀器工作程序(xu)

測試材料：

無源元(yuan)件(jian)：電容(rong)器(qi)(qi)(qi)、電感器(qi)(qi)(qi)、磁芯、電阻器(qi)(qi)(qi)、壓電器(qi)(qi)(qi)件(jian)、變壓器(qi)(qi)(qi)、芯片組件(jian)和網絡(luo)元(yuan)件(jian)

等的(de)陽抗參數評估和(he)性(xing)能分(fen)析。

半導體元件：變容(rong)二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電(dian)路的寄(ji)生參數分析(xi)

其它元件：印(yin)制電路板、繼(ji)電器(qi)、開關、電纜、電池等的阻抗評估(gu)

介質材(cai)料：塑料、陶瓷(ci)和其(qi)它(ta)材(cai)料的介電常數和損(sun)耗角評估

磁(ci)(ci)(ci)性(xing)材料(liao)：鐵氧體、非晶(jing)體和其(qi)它磁(ci)(ci)(ci)性(xing)材料(liao)的導磁(ci)(ci)(ci)率和損耗角評估(gu)

半導(dao)(dao)體材(cai)料：半導(dao)(dao)體材(cai)料的(de)介(jie)電(dian)常數、導(dao)(dao)電(dian)率(lv)和C-V特性

液晶材(cai)料：液晶單元的介電常(chang)數、彈性常(chang)數等C-V特性