產品介紹

GCSTD-DGCSTD介電常數及介質損耗測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣材料在工(gong)頻、音頻、高(gao)頻（包括(kuo)米波波長(chang)在內）下電(dian)容

率(lv)和介質損(sun)耗因數的推(tui)薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常(chang)數和介質損(sun)耗角正切值的測定(ding)方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的(de)（恒久電(dian)介質）的(de)交(jiao)流損(sun)耗(hao)特性和介電(dian)常數

的測試方法

GCSTD介電常數及介質損耗測試儀試驗方法：

接(jie)觸(chu)法：適用于厚度均(jun)勻、上下表面平(ping)整、光滑材料

非接觸法：適用(yong)于上下表面不平整、不光滑(hua)材料

電極(ji)(ji)(ji)類型：固定電極(ji)(ji)(ji)-測量(liang)電極(ji)(ji)(ji)φ38mm／φ50mm（標配電極(ji)(ji)(ji)1套(tao)，標配為38mm）

液(ye)體電極-液(ye)體容量15ml

粉體電極(ji)-根(gen)據樣品量可配專用電極(ji)

試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規(gui)(gui)則(ze)物或者不規(gui)(gui)則(ze)物

性能特點：

測試頻(pin)率20H2～2MHz，10mHz步進

測試(shi)電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次／s的(de)測量速(su)度

320x240點陣大(da)型圖形LCD顯示(shi)

五位讀數分辨率

可測量(liang)22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)(zhi)偏(pian)流源至40A（配(pei)置(zhi)(zhi)兩臺TH1776）（選件）

電(dian)(dian)壓或(huo)電(dian)(dian)流的自動電(dian)(dian)平(ping)調(diao)整（ALC）功能

V、1測試信號電平監(jian)視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀(yi)器設(she)定可供儲存／讀取

內建(jian)比較器(qi)，10檔分選及計數功能

多(duo)種通訊接口方便用戶聯機使用

2m／4m測(ce)試電纜(lan)擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀(yi)器工作程序

測試材料：

無源(yuan)元(yuan)件(jian)：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件(jian)、變壓器、芯片組件(jian)和(he)網絡元(yuan)件(jian)

等的陽抗參數評估和性(xing)能(neng)分析(xi)。

半導體元件：變容二(er)極管的C-VDC特性(xing)；晶體管或集成電路的寄(ji)生參數分(fen)析(xi)

其它元件：印制電(dian)路板、繼(ji)電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評估

介(jie)質材料(liao)：塑料(liao)、陶(tao)瓷和其它(ta)材料(liao)的介(jie)電(dian)常數和損耗角評估

磁(ci)性材(cai)料：鐵氧體(ti)、非晶(jing)體(ti)和(he)其它磁(ci)性材(cai)料的導磁(ci)率(lv)和(he)損耗角評估(gu)

半導(dao)(dao)體材料(liao)：半導(dao)(dao)體材料(liao)的(de)介電常數、導(dao)(dao)電率和(he)C-V特(te)性

液晶材(cai)料：液晶單元的介電常(chang)數、彈性(xing)常(chang)數等(deng)C-V特性(xing)