產品介紹

GCSTD-D智能高低頻介電常數試驗分析儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量電氣絕緣材料在(zai)工(gong)頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米(mi)波(bo)波(bo)長(chang)在(zai)內）下電容(rong)

率和介質(zhi)損耗因(yin)數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介(jie)電常數和(he)介(jie)質損耗角正切(qie)值的測定(ding)方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的（恒久電(dian)介質）的交流損耗特性和介電(dian)常數(shu)

的測試方法

智能高低頻介電常數試驗分析儀試驗方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非(fei)接(jie)觸法(fa)：適(shi)用于上下表面不(bu)平整、不(bu)光滑材料

電(dian)(dian)極(ji)(ji)類型：固定(ding)電(dian)(dian)極(ji)(ji)-測量電(dian)(dian)極(ji)(ji)φ38mm／φ50mm（標配電(dian)(dian)極(ji)(ji)1套，標配為38mm）

液體(ti)電極-液體(ti)容量15ml

粉體電極(ji)-根據樣品量可(ke)配專(zhuan)用(yong)電極(ji)

試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則物或(huo)者不規則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高(gao)達200次／s的測(ce)量速度

320x240點陣大型(xing)圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種阻抗參數組合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏流(liu)源至40A（配置(zhi)兩臺(tai)TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的自(zi)動(dong)電(dian)平調整（ALC）功能

V、1測試信號電(dian)平監(jian)視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設(she)定(ding)可供儲(chu)存(cun)／讀取

內建比(bi)較器，10檔分選及計數功(gong)能

多種通(tong)訊接口方便用戶聯機使用

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工(gong)作程序

測試材料：

無源元件：電容器(qi)、電感器(qi)、磁芯、電阻器(qi)、壓(ya)電器(qi)件、變壓(ya)器(qi)、芯片組(zu)件和網絡元件

等的陽(yang)抗參數評估和性能(neng)分析(xi)。

半導體元件：變容二(er)極管(guan)的C-VDC特(te)性；晶體管(guan)或集成電路的寄生參數分析(xi)

其(qi)它元件(jian)：印(yin)制電(dian)路(lu)板、繼電(dian)器、開(kai)關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評(ping)估

介(jie)質材料：塑料、陶瓷和(he)其它材料的介(jie)電常數和(he)損耗角評估

磁性材(cai)料：鐵氧體(ti)、非晶體(ti)和(he)其它磁性材(cai)料的導(dao)磁率(lv)和(he)損耗角評估(gu)

半導體材(cai)料：半導體材(cai)料的介電常數、導電率和C-V特(te)性

液晶材料：液晶單元的介電常(chang)數(shu)、彈性常(chang)數(shu)等C-V特(te)性