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產品詳細頁
智能高頻介電常數及介質損耗測試儀

智能高頻介電常數及介質損耗測試儀

  • 產品型號:GCSTD-A/B
  • 更新時間:2024-02-19
  • 產品介紹:智能高頻介電常數及介質損耗測試儀的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至低,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

智能高頻介電常數及介質損耗測試儀


主要用途:主要用于測量非金屬材料的介(jie)電常(chang)數(ε)和介(jie)質損耗(tanδ)


應(ying)用對(dui)象:該(gai)儀器用于科研(yan)機(ji)關(guan)、學(xue)校、工(gong)廠(chang)等單位對(dui)無機(ji)非金屬新材料性能的(de)應(ying)用研(yan)究。


滿足標準:

GB/T1409-2006測(ce)量電氣絕(jue)緣材料在工頻(pin)、音(yin)頻(pin)、高(gao)頻(pin)下電容(rong)率和(he)介質損耗因數的推薦方(fang)法

GB/T 5654-2007液(ye)體絕緣材(cai)料 相對電(dian)容率(lv)、介質損(sun)耗因數(shu)和直(zhi)流電(dian)阻率(lv)的測(ce)量

GB/T 21216-2007絕緣(yuan)液體 測量電導和電容確定介質損耗因數的試驗方法

GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電(dian)常數(shu)和(he)介質損(sun)耗角(jiao)正切值的測定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元器件結構陶瓷材料性能測(ce)試方法(fa)介質(zhi)損耗角正(zheng)切(qie)值的測(ce)試方法(fa)

GBT 1409-2006測量(liang)電氣(qi)絕緣材(cai)料在工頻、音頻、高頻(包(bao)括米波波長(chang)在內(nei))下電容率和介質

損耗因數的推薦方法

ASTM D150/IEC 60250固體(ti)電絕(jue)緣(yuan)材料的(de)(de)(恒久電介(jie)(jie)質)的(de)(de)交流(liu)損耗特(te)性和介(jie)(jie)電常(chang)數的(de)(de)測試方法


方法概述:

智能高頻介電常數及介質損耗測試儀是各種(zhong)電(dian)(dian)瓷、裝(zhuang)置瓷、電(dian)(dian)容器(qi)(qi)等(deng)(deng)陶瓷,還有(you)(you)復合材料等(deng)(deng)的(de)(de)一項重(zhong)要的(de)(de)物(wu)理性質,通過測(ce)(ce)定介質損(sun)(sun)耗(hao)角正切(qie)tanδ及(ji)介電(dian)(dian)常數(ε),可進一步了(le)(le)解影(ying)響介質損(sun)(sun)耗(hao)和(he)介電(dian)(dian)常數的(de)(de)各種(zhong)因素,為提高(gao)材料的(de)(de)性能(neng)提供(gong)依據(ju);儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)基本原(yuan)理是采用(yong)高(gao)頻(pin)諧(xie)振法(fa),并提供(gong)了(le)(le),通用(yong)、多用(yong)途、多量(liang)程的(de)(de)阻(zu)抗測(ce)(ce)試(shi)。它以單片(pian)計算(suan)機作(zuo)為儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)控制,測(ce)(ce)量(liang)核心采用(yong)了(le)(le)頻(pin)率數字鎖定,標準(zhun)頻(pin)率測(ce)(ce)試(shi)點(dian)自動(dong)設定,諧(xie)振點(dian)自動(dong)搜索,Q值(zhi)量(liang)程自動(dong)轉換,數值(zhi)顯示(shi)等(deng)(deng)新技術,改進了(le)(le)調諧(xie)回路,使(shi)得調諧(xie)測(ce)(ce)試(shi)回路的(de)(de)殘余電(dian)(dian)感減至,并保留了(le)(le)原(yuan)Q表(biao)中自動(dong)穩幅等(deng)(deng)技術,使(shi)得新儀(yi)器(qi)(qi)在使(shi)用(yong)時(shi)更(geng)為方便,測(ce)(ce)量(liang)值(zhi)更(geng)為精(jing)確。儀(yi)器(qi)(qi)能(neng)在較高(gao)的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)頻(pin)率條(tiao)件(jian)下,測(ce)(ce)量(liang)高(gao)頻(pin)電(dian)(dian)感或諧(xie)振回路的(de)(de)Q值(zhi),電(dian)(dian)感器(qi)(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)感量(liang)和(he)分布電(dian)(dian)容量(liang),電(dian)(dian)容器(qi)(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)容量(liang)和(he)損(sun)(sun)耗(hao)角正切(qie)值(zhi),電(dian)(dian)工材料的(de)(de)高(gao)頻(pin)介質損(sun)(sun)耗(hao),高(gao)頻(pin)回路有(you)(you)效并聯(lian)(lian)及(ji)串(chuan)聯(lian)(lian)電(dian)(dian)阻(zu),傳(chuan)輸線的(de)(de)特性阻(zu)抗等(deng)(deng)。


備注說明:

三種(zhong)不同型號的儀器,主(zhu)要(yao)區別是頻(pin)率不同,根(gen)據(ju)自己測試頻(pin)率,選(xuan)擇合適的型號


電極規格

固體:材料(liao)測(ce)量直徑Φ38mm 可選;厚度可調 ≥ 15mm

液體(ti):測量極片直(zhi)徑Φ38mm; 液體(ti)杯內徑Φ48mm 、深(shen)7mm(選配)

粉體(ti):測量極片直(zhi)徑Φ38mm; 液(ye)體(ti)杯內(nei)徑Φ48mm 、深7mm(選配(pei))

試樣要(yao)求:固體(ti)樣品厚度要(yao)求:0.5-15MM

產品配置:

1、測試主機:一臺

2、測試電感:9個

3、測試夾具(ju):1套(標配固體測試夾具(ju)一套)


其它規格:

1、環境溫度:0℃~+40℃;

2、相對(dui)濕度:<80%;  

3、電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

4、消耗(hao)功(gong)率:約25W;

5、凈重:約7kg;

6、外型尺寸:(長寬高):380×280×132(mm)






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