產品介紹

高低頻電容率介質損耗測試儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣(yuan)材(cai)料在工(gong)頻、音頻、高(gao)頻（包括米波波長在內）下電(dian)容率和介質損耗(hao)因(yin)數的(de)推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡(xiang)膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固(gu)體電絕緣材料的(de)(de)(恒久電介(jie)質(zhi))的(de)(de)交(jiao)流損(sun)耗特性(xing)和介(jie)電常(chang)數的(de)(de)測試方(fang)法

二、高低頻電容率介質損耗測試儀技術要求：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平(ping)整、光(guang)滑材料

電(dian)極類型：固定電(dian)極-測量(liang)電(dian)極φ38mm

測試頻率(lv)：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試(shi)(shi)頻率可以掃描進(jin)行測試(shi)(shi)

*2、測試(shi)頻率可以單點測試(shi)

*3、測(ce)試(shi)頻率可(ke)以多頻設置(zhi)測(ce)試(shi)

4、測試速度模(mo)式(shi)：快速、中速、慢速

5、測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)與曲(qu)線顯示：

*6、電(dian)阻率(lv)—測(ce)試頻率(lv)

*7、絕對介電常數--測試(shi)頻率

*8、相對(dui)介電常數(shu)--測試頻率

*9、相對介電常數虛部--測試頻(pin)率

*10、相對介電常數(shu)實部--測試頻率

*11、介質損耗--測試頻(pin)率

*12、電容值--測試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次(ci)/s（f﹥30kHz） ,100次(ci)/s（f﹥1kHz）

中(zhong)速: 25次(ci)/s, 慢速: 5次(ci)/s

校準功能 開路 / 短路點頻(pin)、掃頻(pin)清零(ling)，負載校準

等效方式 串(chuan)聯(lian)(lian)方式, 并聯(lian)(lian)方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部, 手動(dong), 外部, 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及計(ji)數功能

顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示

存儲器 可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）