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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產(chan)品(pin)詳細(xi)頁
智能電池隔膜電弱點測試儀DRD

智能電池隔膜電弱點測試儀DRD

  • 產品(pin)型號(hao):GCDRD-1000KV
  • 更新時間:2024-04-19
  • 產品介紹(shao):智能電池隔膜電弱點測試儀DRD是根據GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點數。本機采用計算機控制,可對試驗過程中的各種數據進行快速、準確的采集、處理,并可存取、顯示、打印.
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

智能電池隔膜電弱點測試儀DRD

GCDRD-1000KV

電弱(ruo)點測試儀-(計算機控制)

•產品型(xing)號:GCDRD-650KV

•執行標(biao)準(zhun):GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜 第(di)2部(bu)分試驗方法

產品用途:

智能電池隔膜電弱點測試儀DRD,該儀器(qi)主(zhu)要(yao)用(yong)于(yu)電(dian)氣用(yong)聚(ju)氨脂(zhi)薄膜(mo)、塑料薄膜(mo)、聚(ju)丙(bing)稀(xi)薄膜(mo)等絕緣材料在給(gei)定直流電(dian)壓(ya)下自動升壓(ya)測定每(mei)平(ping)方米的擊(ji)穿點數。

本儀器(qi)方式為微機控(kong)制,卷膜(mo)移動(dong)速度可設定,按照(zhao)設定的(de)升壓速率升壓,達到(dao)設定的(de)電(dian)壓后,實時(shi)(shi)記(ji)錄當前(qian)的(de)電(dian)壓值和(he)電(dian)流值,并能(neng)夠(gou)實時(shi)(shi)記(ji)錄當前(qian)的(de)擊穿點,試驗(yan)結束(shu)后自動(dong)歸零,自動(dong)統計電(dian)弱(ruo)點數(shu)、電(dian)弱(ruo)線數(shu),自動(dong)計算每(mei)平方米的(de)電(dian)弱(ruo)點數(shu)。

本(ben)儀器自動化程度高,操作(zuo)簡單、安(an)裝卷膜方(fang)(fang)便、落地式結構方(fang)(fang)便操作(zuo)。

結構組成:

1、升(sheng)壓部件(jian):由調(diao)壓器和高壓變壓器組成(cheng)0~10KV的升(sheng)壓部分。

2、動 部 件:通過調壓(ya)裝置(zhi)勻速升壓(ya)到設定的(de)電壓(ya)值。

3、檢測部件(jian):由(you)集成電路組成的測量(liang)電路,實時檢測測量(liang)數據傳給計算機。

4、計(ji)算機(ji)軟(ruan)件:通過(guo)智能電路把由(you)檢測(ce)設備采集的(de)測(ce)控(kong)信號傳給計(ji)算機(ji)。計(ji)算機(ji)根(gen)據采集的(de)信息控(kong)制設備運行并處理試驗結果。

5、收卷放卷:固定(ding)卷膜并按照(zhao)設定(ding)的速(su)度旋轉運動

設備工作(zuo)原理: 

  本測試儀試驗電壓(ya)是0-10KV直(zhi)流電壓(ya),其波(bo)動(dong)為±1%。測試儀在試樣弱點(dian)擊穿(chuan)后(hou)約0.1s內使電壓(ya)回升到(dao)原來設定的電壓(ya)。銅輥為下電極(ji),導(dao)電橡(xiang)膠(jiao)為上電極(ji)。薄膜以2m-5m /min的速(su)度(du)移(yi)動(dong),薄膜弱點(dian)時擊穿(chuan),擊穿(chuan)點(dian)自(zi)動(dong)累(lei)積計(ji)數(shu)。膜移(yi)動(dong)以平(ping)方(fang)數(shu)自(zi)動(dong)計(ji)數(shu)。

優勢特點:

1、操作(zuo)簡單(dan):放卷收卷固定后,點開(kai)始自動測試

2、動態(tai)(tai)顯示(shi):在薄膜擊穿后(hou),同步動態(tai)(tai)顯示(shi)曲(qu)線,直觀(guan)可視

3、安裝方便:把模(mo)卷放入氣漲軸(zhou),通氣自動固定

4、張力可(ke)調:同能(neng)實時調節收卷(juan)、放卷(juan)的張力

5、多(duo)種模式:測(ce)試(shi)面積/測(ce)試(shi)長度/測(ce)試(shi)時間

6、擊穿點判(pan)定:實(shi)時記錄(lu)電弱點與(yu)測(ce)試長度的數(shu)據,可以(yi)統計查詢電弱點之間的長度

7、自(zi)動存儲:試驗介紹后自(zi)動彈窗(chuang)提示(shi)存儲數(shu)據

8、智(zhi)能自動:本機智(zhi)能化、自動化程度高,無需專業(ye)培訓,即可(ke)操作

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