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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品(pin)詳細(xi)頁
介電常數測試儀GCSTD

介電常數測試儀GCSTD

  • 產品型(xing)號(hao):GCSTD-D
  • 更(geng)新時間:2023-11-18
  • 產品介紹:介電常數測試儀GCSTD是一種*的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹


GCSTD-D介電常數測試儀GCSTD

滿(man)足標準(zhun):

GBT 1409-2006測量(liang)電氣絕緣材(cai)料在工頻、音頻、高(gao)頻(包括米波(bo)波(bo)長在內(nei))下電容

率和介(jie)質(zhi)損耗因數的推薦方(fang)法(fa)

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法(fa)

ASTM D150/IEC 60250固(gu)體電絕(jue)緣材料的(恒久電介質(zhi))的交流(liu)損耗特性(xing)和介電常(chang)數

的測試方法(fa)


介電常數測試儀GCSTD試驗方法:

接觸法:適用于厚(hou)度(du)均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法:適用于(yu)上(shang)下表面不平整、不光滑材料

電(dian)極類型(xing):固定電(dian)極-測量電(dian)極φ38mm/φ50mm(標(biao)配電(dian)極1套,標(biao)配為38mm)

液(ye)體(ti)電極(ji)-液(ye)體(ti)容量15ml

粉體(ti)電(dian)極-根據樣品量可配(pei)專(zhuan)用電(dian)極

試樣類型:固體(ti)、液體(ti)、粉(fen)體(ti)、膏體(ti)/規則(ze)物或者不規則(ze)物


性能特點:

測試頻(pin)率20H2~2MHz,10mHz步進

測試電平10mV~5V,1mV步進(jin)

基本(ben)準(zhun)確度0.1%

最高達200次/s的測(ce)量速度

320x240點陣大(da)型圖形LCD顯(xian)示(shi)

五位讀數分辨(bian)率

可測量(liang)22種阻抗參數組合

四(si)種(zhong)信號源(yuan)輸出(chu)阻抗

10點(dian)列表掃描測(ce)試功能

內部自(zi)帶直流偏置源(yuan)

外置(zhi)偏流源至40A(配置(zhi)兩臺TH1776)(選件)

電壓(ya)或(huo)電流的自動電平調整(ALC)功能

V、1測(ce)試信號電平監視功能

圖形(xing)掃描分析功(gong)能

20組內部儀器設定可供儲存/讀取

內建比較器,10檔分選及計數(shu)功能(neng)

多種(zhong)通訊接口方便用(yong)戶聯機使用(yong)

2m/4m測試電(dian)纜(lan)擴展(選件)

中(zhong)英文(wen)可選操作界面

可(ke)通過USB HOST 自動(dong)升級儀器工(gong)作程序


測試材料(liao):

無(wu)源(yuan)元(yuan)件:電(dian)(dian)容(rong)器、電(dian)(dian)感器、磁芯、電(dian)(dian)阻器、壓電(dian)(dian)器件、變壓器、芯片(pian)組件和網絡元(yuan)件

等的陽抗參數評估(gu)和性能分析。

半導體(ti)元(yuan)件:變容二極管的(de)(de)C-VDC特(te)性;晶體(ti)管或(huo)集成電路(lu)的(de)(de)寄生(sheng)參數分析(xi)

其(qi)它元件:印制電路板、繼電器、開(kai)關、電纜、電池等的阻抗評(ping)估

介質(zhi)材料(liao):塑(su)料(liao)、陶(tao)瓷(ci)和(he)其它材料(liao)的介電常數和(he)損(sun)耗角評估

磁(ci)性材(cai)料:鐵氧(yang)體(ti)、非(fei)晶(jing)體(ti)和其(qi)它磁(ci)性材(cai)料的(de)導磁(ci)率和損耗角(jiao)評(ping)估

半(ban)導(dao)體材(cai)(cai)料:半(ban)導(dao)體材(cai)(cai)料的介電常數、導(dao)電率和C-V特性

液(ye)晶(jing)材料:液(ye)晶(jing)單元的介電常(chang)數、彈性常(chang)數等C-V特性



 

 

 

 

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