產品介紹

滿足標準：

GB1410固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法

ASTM D257絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法

一、適用范圍及功能：

表面電阻率測試儀器既可測量高電阻，又可測微電流,可同時測量體積電阻率和表面電阻率。采用了美國In公司的大規模集成電路以及我所的技術,使儀器體積小、重量輕、準確度高。以雙3.1/2 位數字直接顯示電阻的高阻計和電流。是目前國內測量范圍zui寬，準確度zui高的數字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4～1×10-16Ａ。機內測試電壓為10/50/100/250/500/1000V任意可調。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便，適用于防靜電產品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值的檢驗以及絕緣材料和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器除能測電阻外，還能直接測量微弱電流。

二、型號：

       GEST121

三、技術指標：

1.電阻測量范圍： 0.01×10^{4Ω ～1×1018Ω。}

2.電流測量范圍為: 2×10^-4A～1×10^-16A

3.雙表頭顯(xian)示: 3.1/2位LED顯(xian)示

4.內(nei)置測試電(dian)壓：10V、50V、100V、250、500、1000V

5.基本準確度：1% ^（*注）

6 使用環境(jing): 溫度：0℃～40℃，相對濕度<80%

7 機內測試電壓(ya): 10/50/100/250/500/1000V 任(ren)意切換

8.供電形式: AC 220V，50HZ，功(gong)耗(hao)約(yue)5W

9.儀器尺寸: 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10.質量(liang): 約2.5KG

四、主要特點：

電阻測量范圍寬 0.01×10⁴Ω ～1×10¹⁸ Ω

電流測量范圍為 2×10^-4Ａ ～1×10^-16Ａ

體積小、重量輕、準確度高

電阻、電流雙顯示

性能好穩定、讀(du)數(shu)方便

所有測試電壓（10/50/100/250/500/1000V）測試時電阻結果直讀，免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數等使用不便的麻煩，    使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。

表面電阻率測試儀器既能測超高電阻又能測微電流

適用(yong)范圍廣:適用(yong)于防靜(jing)電產品(pin)如防靜(jing)電鞋、防靜(jing)電塑料橡(xiang)膠制(zhi)品(pin)、計算機房防靜(jing)電活動地(di)板等電阻值的檢驗和電子電器(qi)產品(pin)的絕(jue)緣電阻測量

五、工作原理：

根據歐(ou)(ou)姆定(ding)律，被測電(dian)阻(zu)(zu)Rx等于施加(jia)電(dian)壓V除以通(tong)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)電(dian)流I。傳統的(de)(de)(de)高阻(zu)(zu)計的(de)(de)(de)工(gong)作原理(li)是(shi)(shi)測量(liang)(liang)電(dian)壓V固定(ding)，通(tong)過(guo)(guo)測量(liang)(liang)流過(guo)(guo)取樣電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)電(dian)流I來得到(dao)電(dian)阻(zu)(zu)值。從歐(ou)(ou)姆定(ding)律可(ke)以看(kan)出(chu)，由于電(dian)流I是(shi)(shi)與(yu)電(dian)阻(zu)(zu)成反比(bi)(bi)，而不是(shi)(shi)成正比(bi)(bi)，所以電(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)顯示值是(shi)(shi)非(fei)線性(xing)的(de)(de)(de)，即電(dian)阻(zu)(zu)無(wu)窮(qiong)大時，電(dian)流為(wei)零(ling)，即表(biao)頭的(de)(de)(de)零(ling)位處是(shi)(shi)∞，其附近(jin)的(de)(de)(de)刻度非(fei)常密，分(fen)辨率(lv)很低。整個刻度是(shi)(shi)非(fei)線性(xing)的(de)(de)(de)。又(you)由于測量(liang)(liang)不同的(de)(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)時，其電(dian)壓V也會有些變化，所以普通(tong)的(de)(de)(de)高阻(zu)(zu)計是(shi)(shi)精(jing)度差、分(fen)辨率(lv)低。

EST121型數字高阻(zu)計是(shi)同時測(ce)出(chu)電阻(zu)兩(liang)端的(de)(de)電壓(ya)V和(he)流過(guo)電阻(zu)的(de)(de)電流I，通過(guo)內部的(de)(de)大規模(mo)集成(cheng)電路完成(cheng)電壓(ya)除(chu)以電流的(de)(de)計算，然后把所(suo)得(de)到的(de)(de)結果經過(guo)A/D轉換后以數字顯示出(chu)電阻(zu)值，即便是(shi)電阻(zu)兩(liang)端的(de)(de)電壓(ya)V和(he)流過(guo)電阻(zu)的(de)(de)電流I是(shi)同時變(bian)化，其顯示的(de)(de)電阻(zu)值不象普通高阻(zu)計那樣因被(bei)測(ce)電壓(ya)V的(de)(de)變(bian)化或(huo)電流Ｉ的(de)(de)變(bian)化而(er)變(bian)，所(suo)以，即使測(ce)量(liang)電壓(ya)、被(bei)測(ce)量(liang)電阻(zu)、電源電壓(ya)等(deng)發生變(bian)化對(dui)其結果影(ying)響不大，其測(ce)量(liang)精(jing)度很高，從理(li)論上講其誤(wu)差(cha)可(ke)以做(zuo)到零，而(er)實際誤(wu)差(cha)可(ke)以做(zuo)到千(qian)分之幾(ji)或(huo)萬分之幾(ji)。